Zeta電位與粒徑分析儀是一種集納米粒度測量、Zeta電位分析及分子量檢測于一體的多功能分析設備，廣泛應用于納米材料、膠體化學、生物醫藥、食品、環境監測等領域。其核心功能是通過動態光散射（DLS）、電泳光散射（ELS）及靜態光散射（SLS）技術，同步獲取顆粒的粒徑分布、表面電荷特性（Zeta電位）及分子量信息，為材料穩定性評估、分散性優化及工藝開發提供關鍵數據支撐。

　　Zeta電位與粒徑分析儀在操作前的準備工作：

　　1、儀器狀態檢查

　　確認儀器供電（220V穩定電源）、接地（接地電阻≤4Ω）正常，避免漏電或電磁干擾（遠離大功率設備如離心機、超聲清洗機）。

　　打開儀器主機電源，等待30分鐘預熱（光學系統、電極需達到穩定工作溫度，一般為25±1℃），同時啟動配套操作軟件，檢查軟件與儀器的連接狀態（無“通訊失敗”報警）。

　　檢查核心部件狀態：

　　光學系統：觀察光源（氙燈/汞燈）是否正常點亮，無閃爍、暗斑；

　　Zeta電極：確認電極表面無腐蝕、結晶殘留，短期閑置需浸泡在去離子水中，使用前取出用無塵紙吸干水分；

　　分散單元：若測量粒徑需超聲分散，檢查超聲探頭是否清潔、攪拌槳轉動是否順暢。

　　2、樣品準備（關鍵步驟，直接影響測量結果）

　　粒徑測量樣品要求：

　　樣品需為均勻分散體系（避免肉眼可見沉淀），若樣品易團聚，需用對應分散介質（如水、乙醇、有機溶劑）稀釋至合適濃度（一般吸光度在0.1-0.5AU之間，濃度過高易導致顆粒遮擋，過低則信號弱）。

　　若需分散，將樣品倒入分散池，開啟超聲分散器（功率20-50W，時間10-60秒，根據樣品調整，避免過度超聲破壞顆粒結構），同時開啟攪拌（轉速50-200rpm，確保顆粒均勻懸?。?。

　　Zeta電位測量樣品要求：

　　樣品濃度需更低（一般0.01%-0.1%，避免顆粒間相互作用影響電荷測量），且需用與實際應用場景一致的電解質溶液（如0.01mol/L KCl）調節離子強度，避免離子濃度過高導致電極極化。

　　若樣品含大顆粒（＞1μm），需先用0.22μm或0.45μm濾膜過濾（使用與樣品兼容的濾膜，如水系樣品用混合纖維素濾膜，有機相用PTFE濾膜），防止堵塞樣品池或干擾電泳信號。